SWAN日本天鵝段差尺C1-20T

SWAN日本天鵝段差尺C1-20T

 SWAN日本天鵝 C1-20T 三球面段差尺
スワン

ダンチノギス

測定範囲(mm) 

±10 

目量(mm) 

0.05 

質量(g) 

50 

器差(mm) 

±0.05

日本天鵝牌SWAN 數顯段差規 段差尺 C1-20T
日本SWAN天鵝三球式數顯斷差規面差尺C2-20R/C1-20T/C1-20TD

SWAN日本天鵝三球面段差尺 C1-20T 游標段差規刻度面差尺
進口游標斷面規 三球機械面差尺 JST-A20T與日本天鵝C1-20T
日本SWAN天鵝三球式數顯斷差規面差尺C2-20R/C1-20T/C1-20TD

日本天鵝牌SWANC1-20T日本天鵝牌SWAN段差尺|段差規
日本SWAN天鵝牌C1-20T游標卡尺不銹鋼段差規面差尺

SWAN日本天鵝牌C1-20T段差規/面差尺

日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
用于半導體、電子、液晶相關等產品的生產
品質管理系統、實驗研究裝置使用的光學系統
外觀檢查系統的嵌入式光學單元
微生物等運動物體的觀察 等
可安裝數碼相機，通過外部顯示器進行觀察和拍攝。
可實現橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝
★微量流體分析用光學系統
★以觀察和分析細胞、微生物等為目的的光學系統

M Plan Apo NIR系列等支持紅外區的物鏡組合，可在紅外線下實
現可見光下做不到的非破壞性檢查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量
★MEMS內部的非破壞評價、三維安裝評價
★半導體封裝(IC)的內部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器
★紅外分光特性分析

通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機卡口的
組合，能夠對同一位置以不同倍率同時觀
察。
(低倍率側：2/3型、高倍率側：1/2型等)

通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合，可實現高精度、高
品質加工。
與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護膜、有機薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線

憑借長動作距離設計的物鏡，實現優異的操作性。
與定位器、探針臺等組合。
通過與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統。
此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內的外觀檢查的系統